表面粗糙度測(cè)量儀

Surtronic Duo II 被廣泛用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、工業(yè)廠房和檢測(cè)室。

Surtronic Duo II 可用于評(píng)估地面的安全性，也可幫助地面材料制造商控制生產(chǎn)過程中的粗糙度。

它可靠、耐用、快速、易于使用，并且只需很少的培訓(xùn)。

Surtronic Duo II 專門用于測(cè)量表面粗糙度，可與 HSE 滑倒評(píng)估軟件結(jié)合使用，以檢查地面的粗糙度。

Surtronic 的分辨率為 0.01 µm（0.4 µin），采用的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)為 ISO 4287。

表面粗糙度測(cè)量儀

Surtronic Duo II ，只需按一鍵即可測(cè)量多個(gè)粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會(huì)顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進(jìn)行快速、輕松和精確的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。

Surtronic Duo II 的特點(diǎn):

• 測(cè)量 - 觸覺測(cè)量按鈕，適用難測(cè)到的位置

• 分體式 - 通過滑軌和鎖定裝置，分為顯示/控制裝置和驅(qū)動(dòng)裝置兩部分

• 金剛石測(cè)針和壓電傳感器 - 帶金剛石的堅(jiān)固耐磨的壓電傳感器測(cè)針，確保測(cè)量結(jié)果的可靠性。

• 藍(lán)牙技術(shù) - 在驅(qū)動(dòng)裝置和顯示/控制裝置之間進(jìn)行快速可靠的通信

技術(shù)參數(shù)

量 程： 200um

行程：   5mm
取樣長度： 0.8mm+/-15%

參數(shù)：  Ra：0.1um-40um
精 度： Ra:0.1um Ra：0.1um-199um
Rz:0.1um 尺寸：125*80*38mm
檢測(cè)方式： 壓電式 重量：200g

關(guān)于泰勒-霍普森

泰勒-霍普森有限公司是美國阿美特克公司的一家子公司，阿美特克公司總部設(shè)在賓夕法尼亞州Berwyn市，擁有超過15,000名員工，年收入超過36億美元，公司事業(yè)蒸蒸日上。阿美特克公司為泰勒-霍普森創(chuàng)造了一個(gè)*而強(qiáng)大的現(xiàn)代環(huán)境，以確保泰勒-霍普森未來事業(yè)的連續(xù)成功。

我們持續(xù)不斷地開發(fā)我們的產(chǎn)品組合，以滿足行業(yè)今天所面臨的不斷發(fā)展變化的需求。泰勒-霍普森產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于下一代技術(shù)的開發(fā)和研究，其中，應(yīng)用廣泛的領(lǐng)域包括半導(dǎo)體、硬盤、精密光學(xué)儀器和能源技術(shù)。